Ключевые слова: HTS, coated conductors, measurement technique, n-value, YBCO, numerical analysis, experimental results
Iijima Y., Nagaya S., Kashima N., Saitoh T., Shiohara Y., Watanabe T., Ishiyama A., Ueda H., Machi T., Tanaka Y., Mori M.
Takao T., Shiohara Y., Sato H., Ishiyama A., Asano T., Nakao K., Fukasawa Y., Machi T., Kato J., Minowa S., Iwamura T.
Izumi T., Shiohara Y., Yamada Y., Sutoh Y., Matsuda J., Yajima A., Machi T., Nakaoka K., Kitoh Y., Yoshizumi M., Suzuki K., Nakai A., Nakanishi T.
Ключевые слова: HTS, YBCO, REBCO, coated conductors, composition, Jc/B curves, TFA-MOD process, pinning centers, IBAD process, fabrication, critical caracteristics
Izumi T., Shiohara Y., Yamada Y., Sutoh Y., Matsuda J., Machi T., Nakaoka K., Kitoh Y., Yoshizumi M., Suzuki K., Nakai A., Nakanishi T.
Ключевые слова: HTS, coated conductors, YBCO, YBCO, IBAD process, PLD process, TFA-MOD process, Jc/B curves, fabrication, critical caracteristics
Muroga T., Fuji H., Izumi T., Watanabe T., Yamada Y., Miyata S., Konishi M., Machi T., Ibi A., Kitoh Y., Nakao K.(nakao@istec.or.jp), Aokia Y., Shioharaa Y.
Ключевые слова: HTS, coated conductors, long conductors, YBCO, current distribution, Hall sensor, measurement technique
Fuji H., Izumi T., Aoki Y., Yamada Y.(yamada@istec.or.jp), Nakao K., Chikumoto N., Ibi A., Kitoh Y., Machi T.(machi@istec.or.jp)
Ключевые слова: HTS, coated conductors, long conductors, optical imaging, measurement technique, length
Ключевые слова: patents, MgB2, bulk, sintering, fabrication, critical current density, critical caracteristics
Tokunaga Y., Izumi T., Aoki Y., Hirabayashi I., Chikumoto N., Matsuda J., Kitoh Y., Machi T.(machi@istec.or.jp)
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, TFA-MOD process, optical imaging, defects, experimental results, fabrication
Tokunaga Y., Izumi T., Machi T., Chikumoto N.(chiku@istec.or.jp), Tajima S.
Tanaka S., Koshizuka N., Nakao K., Shimura S.(shimura@istec.or.jp), Machi T., Mochizuki K., Shibata N., Ushio K.
Ключевые слова: MgB2/Cu, wires, PIT process, MgB2, coatings, current-voltage characteristics, microstructure, Jc/B curves, coils, fabrication, power equipment, critical caracteristics
Murakami M., Koshizuka N., Shimura S.(shimura@istec.or.jp), Machi T., Mochizuki K., Ishikawa I., Shibata N.
Ключевые слова: MgB2/Cu, wires, PIT process, fabrication, Jc/B curves, coils, current-voltage characteristics, power equipment, critical caracteristics
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.